东方测控

行业企业市场标准科技新品会议展会政策原创

航天科工研发航空航天传感器频率测量用芯片

行业聚焦点中国仪表网2014年04月03日 14:35人气:4932

  中国仪表网讯  近日,在中国航天科工集团公司传来消息,航天科工三院33所ASIC试验室的科研团队自主设计,成功研发的第一颗ASIC芯片FDC3301通过了相关试验。FDC3301芯片的成功研制,标志着航天科工33所电子技术领域从板级拓展到了芯片级,人才队伍正由芯片的使用者向芯片的设计者转变。
  
  采用FPGA的传统测频方法无法满足大动态情况下对振梁加速度计输出频率信号高速采样的要求,加之对国外芯片依赖较大。针对这种情况,航天科工33所积极创新,自主开展了ASIC芯片的设计。该芯片主要用于完成振梁加速度计频率信号的同步连续测量,可直接输出被测信号浮点值频率。其各项性能指标均达到或超过了芯片规格书的要求,不仅实现了原有电路的芯片化集成,更重要的是其性能指标得到了显著的改善,量化噪声降低了一个数量级,显著提高了系统的动态特性。
  
  据介绍,此次成功研发的ASIC芯片将可应于航空航天传感器频率测量,工业领域测试和测量系统等领域。
(本文来源:中国航天科工集团公司转载请注明出处
仪表网官方微信
@仪表网
已推荐
0

全年征稿 / 资讯合作

联系邮箱:ybzhan@QQ.com
  • 凡本网注明"来源:中国仪表网"的所有作品,版权均属于中国仪表网,转载请必须注明中国仪表网,http://www.ybzhan.cn/。违反者本网将追究相关法律责任。
  • 本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
  • 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
成丰仪表——中国第三代流量计领军品牌


返回首页
“双11”仪器仪表促销狂欢节
关闭