“纳米表面计量与标准”专题报告会在上海召开

　　【仪表网 仪表会议】作为院第四届科技节的重要活动之一，5月19日，上海计量测试技术研究院特邀德国联邦物理技术研究院（PTB）专家Ludger Koenders博士来院作“纳米表面计量与标准”专题报告会。

　　邵力院长出席了报告会，向Ludger Koenders博士介绍上海计量测试技术研究院作为国家法定计量检定机构在科研创新方面所取得的丰硕成果，特别介绍了上海计量测试技术研究院在微纳米计量方面的研究成果以及目前所承担的国家重大仪器专项研究进展情况。
　　
　　Ludger Koenders博士作为计量专家，PTB纳米表面计量部门负责人，创建了纳米计量领域的系列会议nanoscale。他在专题报告会中对PTB的发展现状进行了介绍，并与与会专家就样品表面粗糙度、台阶高度、线间隔及微纳米标准板的制备方法等进行深入地讨论。
　　本次交流活动不仅为加强科技创新和技术交流，提升上海计量测试技术研究院微纳米计量与科研创新的水平，展现计测事业的新发展和新成果提供了很好的契机，同时也为今后间的合作与共同发展打下良好的基础！
　　
　　上海市纳米科技与产业发展促进中心项目管理部、上海理工大学、上海交通大学、宁波大学、广州韵脉科技有限公司相关专家和领导参加了讨论会，上海计量测试技术研究院微纳米计量团队就微纳米测量技术作了相关报告并参与了专题交流。
　　
　　（原标题：市计测院第四届科技节之“纳米表面计量与标准”专题报告会成功召开）