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泛华测控汽车电子测试技术研讨会圆满结束

中国仪表网2007年12月28日 08:47人气:546

    近日,泛华测控(PANSINO)在广州成功举办 “柔性测试助力自动化生产——泛华测控汽车电子测试技术研讨会”。无论是工程师的精彩演讲、互动交流,还是基于柔性测试技术的汽车电子测试产品展示、有奖竞答活动,都让参会嘉宾着实感受到泛华测控带来的“柔性测试”技术的独特魅力。

       会议全天围绕着柔性测试这个主题,分别从汽车传感器测试解决方案、图像检测技术在汽车电子测试中的应用、功能测试系统的快速构建、生产线上的ECU测试几个方面切入,结合泛华在汽车电子测试等方面的成功案例,揭开了“柔性测试”技术在自动化生产中的神秘面纱。参会嘉宾有来自东风本田、捷普电子、艾默生等制造环节的技术工程师和负责人。95%的参会嘉宾表示:“柔性测试”技术可以提高效率,节约时间和成本,对生产有很大帮助。在产品展示现场,来宾对具备适应性、灵活性和拓展性优势的电路板功能测试系统、汽车传感器测试系统和汽车仪表盘检测系统十分感兴趣,不断向泛华工程师提问,并积极参与到竞答活动中。泛华测控系统开发部的技术主管张文靖表示:“柔性测试专注于测试测量技术,整体考虑产品生产的需求,从而推进相关技术在生产测试方面的专业化,构建柔性测试技术体系。”
 

       此次活动,推动国内汽车电子测试领域发展,还让“柔性测试”技术丰富了现代测试测量技术。作为“柔性测试”技术的创始者和实践者,泛华测控将一如既往地完善和扩展其技术体系,并继续推出产品化、系列化的柔性测试解决方案。据悉,泛华测控该专题研讨会明年还将继续举办,敬请关注!

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