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仪表上游集成电路16项标准发布

仪表文件 2017年01月16日 16:08:41来源:仪表网 31030
摘要工信部发布集成电路领域《集成电路 存储器引出端排列》等4项国家标准和《IP核可测试性设计指南》等12项行业标准。

  【仪表网 仪表文件】集成电路等基础元器件是发展仪器仪表、控制计算装置的基础,对于仪器仪表行业发展起着重要的推动作用。作为新兴的战略性产业,集成电路受到了中国政府极大的关注,面对国家的扶持以及各项利好政策,集成电路产业的变革就在眼前,并将进入全新的发展阶段。

  
  1月13日,工信部发布集成电路领域《集成电路 存储器引出端排列》等4项国家标准和《IP核可测试性设计指南》等12项行业标准,并面向社会各界征求意见,截止日期到2017年2月14日。

公示标准汇总表
序号
计划编号
项目名称
标准类型
制修订
代替标准号
采用标准
项目周期
(月)
起草单位
1
20154231-T-339
集成电路 存储器引出端排列
国标
制定
 
IEC 61964-1999
2017
工业和信息化部电子第五研究所
2
20154239-T-339
半导体集成电路 DDR3测试方法
国标
制定
 
 
2017
中国电子技术标准化研究院
3
20154240-T-339
半导体集成电路 快闪存储器测试方法
国标
制定
 
 
2017
中国电子技术标准化研究院
4
20154245-T-339
集成电路 焊柱阵列试验方法
国标
制定
 
 
2017
中国电子科技集团公司第五十八研究所
5
2015-1789T-SJ
IP核可测性设计指南
行标
制定
 
 
2017
哈尔滨工业大学、工业和信息化部软件与集成电路促进中心、合肥工业大学
6
2015-1790T-SJ
IP核质量信息描述方法
行标
制定
 
 
2017
哈尔滨工业大学、工业和信息化部软件与集成电路促进中心、合肥工业大学
7
2015-1804T-SJ
通用NAND型快闪存储器接口
行标
制定
 
 
2017
上海复旦微电子有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、中兴通讯股份有限公司、深圳海思半导体有限公司
8
2015-1791T-SJ
半导体集成电路 串行外设接口测试方法
行标
制定
 
 
2017
中国电子技术标准化研究院、深圳国微电子股份有限公司
9
2015-1803T-SJ
数字微电子封装的串扰特性
行标
制定
 
 
2017
中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所
10
2015-1808T-SJ
微电子封装的数字信号传输特性
行标
制定
 
 
2017
中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所
11
2015-1809T-SJ
微电子器件封装的地和电源阻抗
行标
制定
 
 
2017
中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所
12
2015-1807T-SJ
微波电路型号命名方法
行标
修订
SJ 2406-1983
 
2017
中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第五十五研究所
13
2015-1794T-SJ
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
行标
制定
 
 
2017
中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、深圳国微电子股份有限公司、上海复旦微电子有限公司、成都华微电子有限公司
14
2015-1792T-SJ
半导体集成电路 电压比较器测试方法
行标
修订
SJ/T 10805-2000
 
2017
中国电子技术标准化研究院、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、中国电子科技集团公司第二十四研究所
15
2015-1798T-SJ
硅通孔几何测量术语
行标
制定
 
 
2017
中国电子科技集团公司第55研究所、长电科技有限公司、天水华天科技有限公司
16
2015-1797T-SJ
功率电机驱动器测试方法
行标
制定
 
 
2017
中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所

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