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牛津仪器新品元素分析及镀层测厚仪首发

企业风向标中国仪表网2008年02月14日 08:36人气:604

2008年1月24日,牛津仪器公司在上海南新雅华美达大酒店召开亚洲区新产品发布会,发布了新产品:X-Strata980。这款最新研发的产品X-Strata980运用X荧光原理实现痕量元素分析及镀层厚度测量,结合大功率X射线光管和高分辨率探测器检测下限达到PPM精度,并具有超强的分析模型。牛津仪器新产品研发中心总监Dr.AndyEllis表示,这款新产品的发布标志着牛津仪器已经成为全球唯一的能提供包括便携式、台式(微聚焦、块状分析)XRF分析仪器的供应商,能够为客户提供针对RoHS筛选的完整解决方案。

随后牛津仪器将陆续在以下活动中推广这款新产品:

SMT/PCB & Nepcon Korea-Feb20-22

CPCA上海-Mar18-20

IPC/APEX Las Vegas-April1-3

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