东方测控

行业企业市场标准科技新品会议展会政策原创

庆天瑞仪器科学技术成果鉴定会胜利召开

专题报道中国仪表网2008年03月25日 08:27人气:541

    2008年3月21日,中国仪器仪表学会分析仪器分会在北京主持召开了江苏天瑞信息技术有限公司研制生产的“便携式、智能化X射线荧光光谱仪”技术鉴定会。会议主要针对天瑞仪器最近研制出的新产品EDX-Pocket-Ⅱ召开。该仪器在2008中国科学仪器发展年会上荣获优秀新产品大奖。 
     
    鉴定会上,委员会听取了天瑞信息技术有限公司董事长刘召贵博士所做的技术报告,并对所提供的资料进行了审核。经过充分讨论,形成以下鉴定意见: 
    1、该仪器的核心部件-探测器系具有自主知识产权的先进技术,保证了仪器的精度与现场分析的需要。 
    2、该产品设计了具有防辐射功能的屏蔽罩,使辐射剂量符合国家规定,保障使用者的安全。 
    3、采用蓝牙技术传输,配合人性化的测试软件,使本仪器具有操作方便、灵活的特点。 
    4、功耗低、重量轻、体积小,外观设计美观大方。 
    鉴定委员会认为,天瑞仪器整体技术水平达到国内领先和国际同行的先进水平。本次鉴定委员会成员有:中国工程院院士金国藩先生、中科院电工研究所院士姚骏恩先生、中国仪器仪表学会分析仪器分会研究员闫成德先生、清华大学化学系教授邓勃先生、中科院物理研究所研究员麦振洪先生和北京市化工研究院工程师云尹洧先生。
(本文来源:转载请注明出处
仪表网官方微信
@仪表网
已推荐
0

全年征稿 / 资讯合作

联系邮箱:ybzhan@QQ.com
  • 凡本网注明"来源:中国仪表网"的所有作品,版权均属于中国仪表网,转载请必须注明中国仪表网,http://www.ybzhan.cn/。违反者本网将追究相关法律责任。
  • 本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
  • 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。
成丰仪表——中国第三代流量计领军品牌


返回首页