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2006-06-10
XDL45 金相检测显微镜
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发布时间:2009-02-12 产地:重庆
市场价格:面议
新品详情

上市时间:2009-02-12

创 新 点:XDL45检测显微镜,采用无限远光学系统,配备了长工作距离的平场复消色差Plan Apo物镜和LED同轴照明,130万像素CMOS摄像头(信号输出接口USB2.0,显微图像测量软件)

产品简介

XDL45检测显微镜,采用无限远光学系统,配备了长工作距离的平场复消色差Plan Apo物镜和LED同轴照明,130万/320万/500万像素CMOS摄像头(信号输出接口USB2.0,显微图像测量软件)体式显微镜+超长工作距离金相镜头,解决了金相显微镜工作距离短、体式显微镜放大倍率低的问题的问题

产品详细信息

XDL45检测显微镜   NEW

XDL45检测显微镜,采用无限远光学系统,配备了长工作距离的平场复消色差Plan Apo物镜和LED同轴照明,130万、320万、500万像素CMOS摄像头(信号输出接口USB2.0,显微图像测量软件)并可以接配各种数码相机。

 

XDL45检测显微镜的技术参数:

平场复消色差物镜Plan Apo

项目

目镜

10X

2X

光学放大倍数

14~90

工作距离(mm)

34.6

5X

光学放大倍数

35~225

工作距离 (mm)

45

10X

光学放大倍数

70~450

工作距离 (mm)

34


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