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东莞市艾思荔检测仪器有限
联 系 人:
张小姐
企业类型:
生产商
注册日期:
2006-11-23
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ts-80 荧光膜厚计
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发布时间:2015-07-30 产地:台湾
市场价格:4587
新品详情

上市时间:2015-07-30

创 新 点:荧光膜厚计特点:

中文视窗操作测量系统
解析度0.001um, 最小测量面积0.1mmΦ
可测量合金层之厚度和组成比例
可测量两层以上镀层之个别厚度
藉由光谱分析可判定被测物之元素
适用对象:1C导线架,封装业、PCB业、精密零
件业、电镀业、电子业。

产品简介

荧光膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm最小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

产品详细信息

荧光膜厚计特点:


中文视窗操作测量系统
解析度0.001um, 最小测量面积0.1mmΦ
可测量合金层之厚度和组成比例
可测量两层以上镀层之个别厚度
藉由光谱分析可判定被测物之元素
适用对象:1C导线架,封装业、PCB业、精密零
件业、电镀业、电子业。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 


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