二箱式高低温冲击试验箱电路控制系统:
韩国三元TEMP880S控制器
采用原装韩国大型液晶LCD中英文文字与数据数据银幕显示交谈方式。
可记忆100组程序(PIN)×1000段(STEP),而各组程序(PIN)多可执行999回或者无限次返覆执行。
微电脑全自动PID+SSR控制方式,既方便又稳定。
微电脑智能型多功能控制,具有各组冷冻压缩机、电磁阀、加温HEATER、加温HEATER… 等全自动控制输出功能。
各系统的主要组件配备有安全检知接口装置,当异常故障发生时,立即经由LCD文字显示故障状态及切断电源。
具有预约开机时间、关机时间之设定功能,可由年、月、日、时、分来设定之。
具有运转保养累积时间显示功能,可供机台运转时间及保养参考用。
LCD背光灯开与关之时间,可由程序来规划之,以延长背光灯之使用年限。
可选择单段控制或多段程序之多种划面,以增加其操作上之方便性。
附时序控制接口RELAY×2组,可规划外部逻辑驱动组件输出(信号、机构、电源……等相关辅助控制)。
具有停电记忆装置及停电机台启动方之选择 BREAK COLD HOT可任意规划之。
温湿度数据设定完成后,或者运转执行中可叫出程序设定图形画面,以方便了解设定及执行之各种情况。
程序执行中可暂停(HOLD),跳段(ADV)及从事其它程序之设定。
具有恢复时间与测试时间WAIT功能。
具有清除程序之功能。
具有操作锁定之功能,及避免人为之干扰。
具有时间及日期之校正。
具有显示状态,及执行等画面以了解机台之运作。
二箱式高低温冲击试验箱安全保护系统:
系统控制回路保险丝。
系统过电流保护装置。
附有无熔丝保护开关。
超温保护装置。
冷冻压缩机过负载保护装置。
压缩机高低压保护开关。
欠相保护开关。
故障指示灯。
紧急停止开关。
控制器设定错误故障显示及警示。冷热冲击试验箱配置清单
温度冲击试验:
※升温/降温速率不低于30℃/分钟。温度变化范围很大,同时试验严酷度还随着温度变化率的增加而增加。
※温度冲击试验与温度循环试验的差异主要是应力负荷机理不同。温度冲击试验主要考察由于蠕变及疲劳损伤引起的失效,而温度循环主要考察由于剪切疲劳引起的失效。
※温度冲击试验容许使用二槽式试验装置;温度循环试验使用单槽式试验装置。在二槽式箱体内,温度变化率要大于50℃/分钟。
※引起温度冲击的原因:回流焊,干燥,再加工,修理等制造、修理工艺中剧烈的温度变化。
※加速应力试验:加速试验是使用比在实际环境中更短的时间,对试验样品进行的加速试验,以考察其失效机理。※试验的加速就是采用加大应力的方法促使试验样品在短期内失效,。但是必须注意避免其它应力原因引起的失效机理。
二箱式高低温冲击试验箱温度循环试验:
※温度循环就是将试验样品曝露于予设的高低温交替的试验环境中。
※为避开温度冲击影响,试验时的温度变化率必须小于20℃/分钟。
※同时,为达到蠕变及疲劳损伤的效果,*试验温度循环为25℃~100℃,或者也可根据产品的用途使用0℃~100℃的循环试验,曝露时间为各1 5分钟。
※环境应力筛选试验(ESS= Environmental Stress Screening):
※对产品施加环境应力促使早期失效产品存在的潜在缺陷尽快而予以剔除。ESS不是加速可靠性试验,主要适用于成品的可靠性筛选试验。