紫外照度计

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用于紫外辐照度测量工作的设备该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。主要性能和技术指标*波长范围及峰值波长:(1)UV365探头:λ:320~400nm;λp=365nm(2)UV420探头:λ:320~500nm;λp=420nm*辐照度测量范围:0.1~1.999×10^5μw/cm2*紫外带外区杂光:UV365:小于0.0详情>>

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