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产品简介
详细介绍
Tektronix 泰克TLA6400 逻辑分析仪提供对数字系统功能进行诊断、验证和优化所需的性能。TLA6400 系列还提供完整的信号完整性诊断工具套件，可让您快速隔离、识别和检定难检问题。为当今的应用增添大量支持，是帮助您应对当今数字设计所有诊断挑战的理想工具。
以下是其型号及相关参数：
一、主要特点和优点
1.杰出的性能，简便易用，调试、验证和优化数字系统
40 ps分辨率MagniVuTM采集技术，准确观察系统中的信号关系；
状态速率－时钟速率高达667 MHz，数据速率高达1333Mb/s，对速的同步总线进行采样；
15 英寸显示器，选配触摸屏，查看更多数据，高效浏览数据；
4种型号，34/68/102/136条通道，高达64 Mb记录长度，提供灵活的解决方案，适应任何预算；
拖放式触发- 把8种不同触发类型的任意一种触发类型从表格拖到波形上，TLA 将自动设置触发条件。消除错误，改善可重复性，节约时间；
拖放式测量-简便地拖动测量工具条上的图标，然后放到相关信号上，获得结果表格。节约时间，消除复杂性，降低测量不确定度；
2.完善的信号完整性工具，迅速隔离、识别和调试复杂的信号完整性问题
毛刺触发和存储-可以触发及突出显示潜在的信号完整性问题。TLA6400 系列不仅能够触发问题，还能够用红色突出显示怀疑的问题，从而能够简便确定需要进一步考察哪些信号；
iCapture-使用泰克*的iCapture功能，把怀疑的信号传送到TLA6400 系列的模拟输出上，而不需要使用示波器探头重复探测，缩短调试时间；
iView-以时间相关的方式同时观察逻辑分析仪数据和示波器数据，在数字域和模拟域中追踪信号完整性问题；
二、主要应用
数字硬件验证和调试；
监测、测量和优化数字硬件性能；
嵌入式软件整合、调试和检验；
TLA6400 系列可以高效地验证和调试数字设计的功能：
·使用已获的25 GHz MagniVu技术，准确测量定时关系。TLA6400系列采用单一的集成采集结构，消除了其它逻辑分析仪结构固有的定时偏移问题；
·时钟速率高达667 MHz，数据速率高达1333 Mb/s，捕获总线上的信号；
·您现在可以购买所需的功能，在测量需求增长时进行升级；
·简单直观的拖放式触发设置，迅速隔离事件；
·完善的拖放式测量，如频率、周期、脉冲宽度、占空比、边沿数量，简便地汇总设计的性能情况；
·以各种时间相关格式查看数据，包括波形、列表、图表、反汇编、源代码或比较；
整体特点：
| 特点 | 说明 |
|---|---|
| 通道数量(采集所有通道，包括时钟) | |
| TLA6401 | 34 通道(2 条是时钟通道)。时钟通道也可以作为判定通道使用 |
| TLA6402 | 68 通道(4 条是时钟通道)。时钟通道也可以作为判定通道使用 |
| TLA6403 | 102通道(4条是时钟通道，2条是判定通道)。时钟通道也可以作为判定通道使用 |
| TLA6404 | 136通道(4条是时钟通道，4条是判定通道)。时钟通道也可以作为判定通道使用 |
| 通道分组 | 组数或每组通道数没有限制(所有通道都可以在多个组中重复使用) |
| 时间标记 | 54 位，20 ps 分辨率(>4 天时长) |
| 时钟/ 采集模式 | 异步/ 同步模式。在所有模式下同时提供25 GHz MagniVu 高速定时 |
功能特点：
| 功能 | 优势 |
| 40 ps 分辨率 | MagniVu™ 采集模式允许准确地观察系统中的信号关系。 |
| 状态采集 | 对时钟速率高达 667 MHz、数据速率高达 1333 Mb/s 的同步总线进行采集 |
| 15 吋显示器 | 通过大显示器以及可选的触摸屏，您可以观察到更多数据并有效地在数据中导航。 |
| 4 个型号 | 选择 34、68、102 或 136 个通道以及高达 64 Mb 的记录长度，灵活的解决方案可满足任何预算。 |
| 拖放式触发 | 从表中的八种不同触发类型中简单地将一种拖到波形上，逻辑分析仪就会自动设置触发条件，这样可避免错误，提高可重复性并节省时间。 |
| 拖放式测量 | 从测量工具栏内简单地拖动一个图标并放到感兴趣的信号上，即可获得结果表。节省时间、降低复杂性、减少测量不确定性。 |
| 毛刺触发和储存 | 允许在潜在的信号完整性问题上触发并将其高亮显示。TLA6400 系列不仅可以在问题上触发，而且通过将可疑问题高亮显示为红色，方便地确定哪些问题需要进一步观察。 |
| iCapture | 使用*的泰克 iCapture 功能将可疑信号传输到 TLA6400 系列的模拟输出。这样可以省去其他示波器探头，降低潜在的增加负载问题，并进一步缩短调试时间。 |
| iView | 逻辑分析仪和示波器数据的时间相关视图可跟踪所有数字和模拟域的信号完整性问题。 |
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