从当下主流的机械硬盘，到未来的磁性存储单元，磁滞回线测量都是评估薄膜性质的重要手段。相较于电学霍尔测量和震动磁强计，光磁克尔效应具有测量速度快，精度高，非侵入，且不需要对样品进行加工或切片等操作的特点。通过对磁滞回线的分析，用户不但可以得到矫顽力及相对磁化强度等信息，亦可了解磁性薄膜磁各向异性等性质。针对不同矫顽力的多层磁性薄膜结构，磁光克尔测量可以分析出逐层的磁滞回线信息。

上海屹持光电提供的磁滞回线测量仪标准系统按照性能优先，稳定性优先的设计思路，可以满足实验室研究及工业生产中各种磁性薄膜材料的测试需求。针对不同磁各向异性材料的光学响应，我们提供两种测试组件：PMA Checker 以及 IMA Looper，两种系统共享一套数据采集系统，切换方便。“控制盒+光磁主体+电脑"的套装（如上图所示）即是完整的设备，无需任何外置仪表（电源，锁相放大器）客户即可快速完成磁滞回线的测量；此外，客户可以自主选择使用锁相放大器（SR830/810，Zurich MFLI）进行数据采集，该设备预留了与锁相放大器匹配的接口。

该磁滞回线测量仪产品提供基于 LabView的程序，方便客户快速上手。基于 C，Python的控制程序也可应客户要求提供。

磁光克尔效应磁滞回线测量仪 应用案例

? 自旋/磁电子学
? 磁性纳米技术
? 非易失性磁性随机存储器
? 磁阻研究
? 磁性薄膜

? 磁性传感器

右图测试样品结构（Si 衬底/MgO (2)/Pt (4)/Co (0.2)/[Ni (0.2)/Co (0.2)] 2 /X(2)/MgO (1)/Si (3) （厚度为纳米，X=Pt, Cu, MgO, Ir, Ta, W, and Hf ）

技术参数

主要功能	垂直膜磁滞回线测量
测试模式	磁光克尔效应-反射式
光磁主体构成	半导体激光+起偏器+检偏器+探测器+探测器放大电路+电源管理电路+样品托+霍尔传感器（可选）+电磁铁
克尔角分辨率	0.001°
磁场强度1	±3600 Oe
设备控制盒构成	数据采集模组+电磁铁电源+系统供电模组
供电输入（控制盒）	220 VAC 50 Hz
数据采集（控制盒内）	16位精度，50kS/s
电磁铁电源（控制盒内）	（控制盒内）90瓦
尺寸（光磁主体）2	60 毫米× 80毫米 × 160毫米
尺寸（控制盒）2	251 毫米× 60毫米 × 38毫米