北京金三航科技发展有限公司
维修各类电子产品,判断其集成电路故障,破译被抹去型号集成电路的真实型号,烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM.
集成电路测试仪产品简介
·器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判别其逻辑功能好坏。
·器件型号识别:当不知被测器件的型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
·器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。
·器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能*,引脚排列*的器件型号。
·内部RAM缓冲区修改:仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。
·微机通讯:仪器可通过串行口接受来自微机的数据或将内部RAM缓冲区的数据传送到微机。
·ROM器件读入:仪器可将128K以内的ROM器件内的数据读入并保存。
·ROM器件写入:仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K以内的ROM器件中。
集成电路测试仪适用范围
·维修各类电子产品,判断其集成电路故障。
·破译被抹去型号集成电路的真实型号。
·烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
·开发各类智能电子产品,调试程序。
·检验新购器件的质量。
可测器件种类
·TTL74、54系列。
·TTL75、55系列。
·CMOS40、45、14系列。
·单片机系列。
·EPROM、EEPROM、RAM、FLASHROM系列。
·光耦合器,数码管系列。
·常用微机外围电路系列。
·其它常用电路及用户提供系列。
·运算放大器系列(单运放、双运放、四运放)。
·三端稳压器系列(78XX,79XX,317,337)。
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