日立一款的FT110测厚仪 返回列表页

日立一款的FT110测厚仪

特点：

·即放即测：无需人工对焦造成误差，测量结果更可靠；

·测试速度快：3秒自动对焦，10秒钟完成50nm级极薄镀层的测量；

·无标样测量：与以往的技术相比，薄膜FP软件得到进一步扩充，即使没有标准品也能精确测量；

·多镀层测量：多能够进行5层的多镀层样品测量；

·广域图像观察：能将样品图像放大5到7倍，并对测量部位精确定位；

·低成本：较以往机型价格降低了20%。

日立一款的FT110测厚仪与以往的镀层厚度测量仪相同，适用于各种应用程序，同时通过增加新功能以提高可操作性和测量性能，从而大幅缩短从准备样品到完成所有处理的时间。提供符合客户需求的多种选配功能，可根据需要选择适合的仪器配置。