紫外荧光硫测定仪 返回列表页

YHTS-2000型紫外荧光硫测定仪原理：

仪器采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后，样品发生裂解氧化反应。在1050℃左右的高温下，样品被*气化并发生氧化裂解，其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带，经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。二氧化硫受到特定波长的紫外线照射，吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回到它们的原轨道时，过量的能量就以光的形式释放出来，并用光电倍增管按特定波长检测接收，发射的荧光对于硫来讲*是特定的并且与原样品中硫的含量成正比。再经微电流放大器放大、计算机数据处理，即可转换为与光强度成正比的电信号，通过测量其大小即可计算出相应样品的含硫量。
适用范围：适用于测定原油、馏分油、石油气、塑料、石油化工产品、食物等中总硫含量。
符合标准：符合ASTM D5453、SH/T 0689等标准。

测量范围：0.1mg/L～10000mg/L

可测样品状态：固体、液体、气体（配相应进样器）。

PMT高压范围：DC500V～900V,根据测量浓度的高低，通过操作系统设置所需值。
工作站：银河仪器 YHTS-2000

温度范围：室温～1100℃

控温精度：±2℃

重复性误差： 0.1mg/L≤X＜1.0mg/L，≤±0.1mg/L

　　　　　　　　1.0mg/L≤X＜100mg/L，Cv≤10%

　　　　　　　　100mg/L≤X≤10000mg/L，Cv≤5%

YHTS-2000型紫外荧光硫测定仪成套性：主机、裂解炉、自动进样器、计算机（含银河仪器操作软件）等。

YHTS-2000型特点：

Windows操作平台，人机对话，操作便捷。

微电流检测采用国内*检测器，使仪器具有灵敏度高、噪声低、线性范围宽、抗*力强等优点，是国内*的总硫含量分析仪。

高压任意调节，标样校正可采取单点校正，方便、快速、准确。

采用流行电路和进口器件，整机性能优于国内同类产品，并可替代进口。