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高低温按键寿命试验箱产品用途：
本机适用于手机、平板电脑、电子词典、导航仪、计算机键盘、汽车DVD/CD、各种遥控器等产品按键作高温老化条件下的耐打击寿命测试。
高低温按键寿命试验箱技术参数：
温度范围 | -40~+100℃ |
温度波动度 | ±0.5℃ |
温度偏差 | ≤1℃ |
温度均匀度 | ≤2.0℃（-40~+100℃范围） |
升温时间 | 从25℃升至100℃ 40分钟，全程平均非线性，空载 |
降温时间 | 从20℃降至-40℃ 60分钟，全程平均非线性，空载 |
可测试区域 | W450*D450*H500mm |
升降温过冲 | ≤±2℃ |
箱体大负载 | 箱体承重：50Kg |
高低温箱满足 | GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低温试验方法 |
气缸打击行程 | 30mm |
气缸耐温范围 | 高温气缸:室温~75℃,低温气缸：室温～-40℃ |
打击测试速度 | 10~120rpm（取决于气缸伸出时间和缩回时间设定） |
气缸打击力 | 150~1500g |
气缸数量 | 8pcs（可以增配，费用另计） |
测试计数设定 | 0~999999可设定 |
高低温箱尺寸/按 | W1000*D1100*H1500mm/ W650*D400*H1700mm |
高低温箱重量/按 | （约）250kg/约65kg |
电源 | 1∮,AC220V, 4K |
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