叶面积指数测定仪 返回列表页

仪器简介：
叶面积指数测定仪采用上*采用的原理（比尔定律以及冠层孔隙率与冠层结构相关的原理），通过鱼眼镜头成像和CCD图像传感器测量冠层数据和获取植物冠层图像，利用软件对所得图像和数据进行分析计算，得出冠层相关指标和参数。具有精确、省时省力、快捷方便的特点。

仪器用途：
叶面积指数测定仪可测量叶面积指数、叶片平均倾角、散射辐射透过率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、不同太阳高度角下的消光系数、叶面积密度的方位分布、冠层内外的光合有效辐射（PAR）等。广泛应用于作物、植物群体冠层受光状况的测量分析以及农林业科研工作。

功能特点：
1、无损测量叶面积指数、叶片平均倾角以及冠层结构。
2、探头体积小巧，装在测杠上可任意角度测量植物冠层结构。
3、摄像头可自动保持水平。
4、USB接口，测量时连接电脑实时查看图像，即时选取所需图像并保存。
5、外接大容量锂电池，适用于野外工作和长时间测量。
6、测量冠层不同高度，可得到群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图。
7、配有分析软件，有选择所需图像区域的功能（天顶角可分10区，方位角可分10区），可屏蔽不合理的冠层部分，仅对有效图像区域进行分析，使测量数据更加精确。

​技术参数：
镜头角度：150°（特殊需求可自选180°镜头）
分 辨 率：768×494pix
测量范围：天顶角由0°～75°（可分割成十个区域）；方位角360°（可分割十个区域）
PAR感应范围：感应光谱400nm～ 700nm
测量范围：0～2000μmol/㎡·S
电    源：7.4V锂电池组
传输接口：USB
工作温度：0～55℃