北京时代光南检测技术有限公司
产地 | 国产 | 加工定制 | 否 |
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ATX210覆层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量;既可用于实验室,也可用于工程现场;广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护专业*的仪器。
ATX210覆层测厚仪概述
ATX210覆层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量;既可用于实验室,也可用于工程现场;广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护专业*的仪器。
ATX210覆层测厚仪符合以下标准:
ATX210覆层测厚仪功能特点
ATX210覆层测厚仪技术参数
1. 一点校准(um):±[2%H+1]
2. 两点校准(um):±[(1%~3%)H+1]
3. 一点校准(um):±[2%H+1.5]
4. 两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]
1. 小曲率半径(mm):凸1.5 | 凹9
2. 基体小面积的直径(mm):ф7
3. 小临界厚度(mm):0.5
4. 小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
5. 基体小面积的直径(mm):ф5
6. 小临界厚度(mm):0.3
ATX210覆层测厚仪基本配置
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