布鲁克扫描探针显微镜Icon一代 Dimension系列 AFM，自2000年面世以来，布鲁克通用机械性能测试仪(UMT)一直是市场上功能多、使用较广的摩擦磨损试验机。现在，全新设计的UMT TriboLab，在传统通用性基础上，采用*的模块化概念，提供了更多的功能和更好的性能。与以前的UMT产品和竞争对手相比，UMT TriboLab?提供更快的速度、更大的扭矩、和更好的力测量。另外，它引入了一些强大的新功能，大大提高了工作效率和易用性。
功能特点：布鲁克扫描探针显微镜Icon
◆结合Veeco的行业*的针尖-扫描AFM技术，Icon的温度补偿定位传感器使Z轴的的噪音水平达到亚-埃米级，X-Y方向达埃米级。在大样品台、90微米扫描范围系统的仪器当中，这种表现是非常突出的，优于绝大部分的开环、高分辨率AFM系统的噪音水平。
◆Icon不仅具有非常好的分辨率，它还具备许多新的特性，以增加新老AFM用户操作仪器的便捷性及出图像速率：
◆设计的扫描管，实现闭环扫描功能同时，具有开环扫描管的噪音水平，在大样品AFM系统中实现*的分辨率
◆全新设计的XYZ闭环扫描管，在不影响图像质量下具有非常高的扫描速度，具有非常快的数据采集能力
◆的NanoScope软件版本，提供直观的操作流程及默认实验模块，将复杂的AFM操作流程转化为预先设置
◆高分辨率的照相机及X-Y定位，实现更迅速、更有效的样品定位
◆*开放的针尖及样品环境，适用于绝大部分的标准或定制实验
◆硬件及软件设置适用Veeco现有的及即将推出的所有模式及技术，包括现有的的HarmoniX纳米材料性能成像模式
技术参数：
◆X-Y方向扫描范围：90um *90um典型值，小85um
◆Z方向扫描范围：10um典型值，在成像及力曲线模式下；小9.5um
◆垂直方向噪音基底：<30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽（达到625Hz）
◆X-Y定位噪音（闭环）：<0.15nm RMS，典型成像带宽（达到625Hz）
◆X-Y定位噪音（闭环）：<0.10nm RMS，典型成像带宽（达到625Hz）
◆Z传感器噪音水平（闭环）：<35pm RMS, 典型成像带宽（达到625Hz）
◆整体线性误差（X-Y-Z）：0.5% 典型值
◆样品尺寸/夹具：210mm真空吸盘样品台，直径210mm, 厚度15mm
◆电动定位样品台（X-Y轴）：180mm*180mm可视区域；单向2um重复性；双向3um重复性。
◆显微镜光学系统：五百万像素数字照相机（180um至1465um可视范围，数字缩放及自动对焦功能）
◆控制器：NanoScope V型控制器
◆工作台：整合所有控制器、结合人体工学设计，提供直接的物理或可视借口
◆震动隔绝：整体式气动减震台
◆声音隔绝：可隔绝环境中85 dBC的持续噪音
