HDGK-8B开关特性测试仪 返回列表页

HDGK-8B开关特性测试仪

技术指标：

1. 时间测量：12路

             固有分闸（合闸）时间

             分闸（合闸）相内不同期

             分闸（合闸）相间不同期

             合闸（分闸）弹跳时间（弹跳次数）

2. 测试范围：0.01ms～10000ms

3. 准 确 度：1ms～100ms内准确度0.1%±2个字，

             大于100ms准确度0.5%±2个字

4. 速度测量：刚分（刚合）速度

             时间段（行程段或角度段）平均速度

5. 测速范围：1mm传感器 0.01～25.00m/s，

0.1mm传感器 0.001～2.50m/s，

360°角度传感器0.01～25.00m/s

6. 行程测量：动触头行程（行程）

             接触行程（开距）

             过冲行程或反程（超程）

7. 传感器测量范围：直线位移传感器50mm，分辨率:0.1mm，行程0.1～50mm

                   直线位移传感器300mm，分辨率:0.1mm，行程10～300mm（选配）

                   直线位移传感器500mm，分辨率:1mm，行程10～500mm（选配）

                   360线传感器：360°,分辨率:0.25°,行程1mm～1000mm     

8. 电流测量：显示电流为分（合）闸线圈的大电流值

9. 显 示 屏：320×240液晶屏，对比度可调

10. 数据存储：可存储100组测量数据

11. 打 印 机：高速热敏打印机

12. 仪器电源：AC/DC 220V ± 10%；50Hz ± 2%

13. 直流电源

1) 输出电压：25～265V连续可调

2) 输出电流：≤ 20A(短时)

14. 主机体积：360×250×140mm

15. 使用环境：-10℃~+50℃

16. 相对湿度：≤90%

HDGK-8B开关特性测试仪

技术指标

zui大速度：20m/s，分辨率：0.01m/s；测试准确度为：±1.0%读数±0.05 ；

行程测试范围：6mm～300mm；

行程zui小分辨率：0.1mm；测试准确度为：±1.0%读数±0.1mm；

时间测试范围：10ms～15s，

时间分辨率：0.1ms；时间测试准确度为：±0.5%读数±0.2ms；

zui小动作同期差分辨率：0.1ms；测试准确度为：±0.5%读数±0.1ms；

测试通道8路：6路断口时间，1路速度，1路线圈电流；

电源：AC220V±10%；50Hz±1Hz；

操作电源输出：电压DC30V～300V可调，电流20A，数字程控调整，连续工作时间3s；

时间测量

速度及行程测量

分（合）闸时间：分（合）闸时间是指从开关接到分（合）闸控制信号（线圈上电）开始到开关动触头与静触头*次分开（合上）为止的时间。

相内同期：同相断口之间，分、合闸时间zui大与zui小之差。

相间同期：A、B、C三相间，各相中合闸时间zui大值之差为合闸相间同期，分闸时间zui小值之差为分闸相间同期。

弹跳次数：弹跳次数是指开关动、静触头在分（合）闸操作过程中分开（合上）的次数。

弹跳时间：弹跳时间是指开关动触头与静触头从*次分开（或合上）开始到zui后稳定分开（或合上）为止的时间。

断口曲线：断口分合闸状态，并绘制“分合状态—时间”曲线；

速度及行程测量

刚分（合）速度：刚分（合）速度是指开关动触头与静触头接触时的某一时间内，或某一距离内的平均速度，本测试仪提供很多开关的刚分（刚）速度定义方式。