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非接触光学轮廓仪 SURFIEW 3000
三维表面轮廓仪利用光的干扰,可迅速,准确,并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量。相比接触性方式,不会对测量物造成任何损伤,相比共焦方式,高解像力无关倍率均可得到统一结果,与AFM相比,可在宽测量领域内快速测量。
Premium
反复性、准确性、重现性
框架一体型
自动镜头调整钮
优秀的Capacity Sensor
自动滤镜
缝纫功能
自动对焦功能
安装2个变焦距镜头
产品概要
三维表面轮廓仪利用光的干扰,可迅速,准确,并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量。相比接触性方式,不会对测量物造成任何损伤,相比共焦方式,高解像力无关倍率均可得到统一结果,与AFM相比,可在宽测量领域内快速测量。
应用领域
主要特征
测量高度,长度,段差,线,圆,弧,角度,款,宽,距离
面粗糙度,线粗糙度,波形
测量划痕,磨损,缺陷
测量面积,大小
测试原理
利用光的干涉信号,将表面的形状到1nm~10cm为止,没有材料的破损,从相机中显示的全部领域,正确,检测到高强度为单位。
干涉信号是在任意义的基准点中,同时出现的光在移动到不同的场景(optical path),在移动后合上的时候,用两个场景(optical path)的物理现象,是一种明亮的明亮的形态,这是干涉信号。
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