当前位置：北京普林塞斯科技有限公司>>实验室常用设备>>辐照计>> UV-AUV-A实验室紫外辐照计-光学仪器
| 产地 | 国产 | 加工定制 | 是 |
|---|
UV-A实验室紫外辐照计
UV-A 紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过光谱及角度性校正，性能稳定，适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
波长范围λ1，峰值波长λp | （320～400）nm，λP＝365nm | 用户二选一 |
波长范围λ2，峰值波长λp | （375～475）nm，λP＝420nm | |
辐照度测量范围 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 |
|
紫外带外区杂光 | 0.02% |
|
相对示值误差 | ±8％（相对于NIM标准） |
|
角度响应特性 | ±5% （α≤10°） |
|
线性误差 | ±1% |
|
换档误差 | ±1% |
|
短期不稳定性 | ±1%（开机30min后） |
|
疲劳特性 | 衰减量<2% |
|
零值误差 | 满量程的±1% |
|
响应时间 | <1秒 |
|
使用环境 | 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH |
|
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
|
电源 | 6F22型9V积层电池（非充电电池） |
|
整机功耗 | ＜0.1VA |
|
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，仪表网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
仪表网