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半导体冷热冲击环境试验箱 行业制造
产品用途：
用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。现在对于新产品的研发以及检测尤为苛刻与严谨,温度冲击试验箱正是您实验室的必选检测仪器。

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型号规格：
型号：TSD-100F-2P

1、工作室尺寸：（宽×高×深mm）400×350×350
2、外箱尺寸：（宽×高×深mm）1370×1950×1810

3、高温区：+40 ℃ ～ 200 ℃ 

4、低温区：A/-10 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-60 ℃ , C/-10 ℃～-70 ℃

5、温度波动度: ±0.5℃
6、温度均匀度：±3℃

7、温度冲击范围：A/0 ℃～-40 ℃ , B/-10 ℃～-55 ℃ , C/-10 ℃～-65 ℃
8、功率（KW）：A/20, B/21, C/22 
我公司可根据客户的要求制造不同规格的产品。

半导体冷热冲击环境试验箱 行业制造

箱体结构：

全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间的参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。

冷箱、热箱独立控制，箱门互相独立，扩大试验箱的使用范围(一箱三用)。

产品保温效果可以得到充分保证。

试验箱门与循环风机，提篮传动等互锁，保护操作者的安全，一旦打开箱门，循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。在箱顶有标准引线孔管，方便用户向箱内引入传感器线，检测电缆等类型引线。

执行与满足标准:

1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;

4. 国军标GJB150.3-86;

5. 国军标GJB150.4-86;

6. 国军标GJB150.5-86;

7、GJB150.5-86温度冲击试验;

8、GJB360.7-87温度冲击试验;

9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;

10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱--一箱式;

11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱--二箱式;

12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;

10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;

11、GB/T 2423.22-2002温度变化;

12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;

13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

工作原理：

高低制冷循环均采用逆卡若循环，该循环由两个等温过程和两个绝热过程组成。其过程如下:制冷剂经压缩机绝热压缩到较高的压力，消耗了功使排气温度升高，之后制冷剂经冷凝器等温地和四周介质进行热交换，将热量传给四周介质。后制冷剂经阀绝热膨胀做功，这时制冷剂温度降低。后制冷剂通过蒸发器等温地从温度较高的物体吸热，使被冷却物体温度降低。此循环周而复始从而达到降温之目的。

不同温段冲击:由多级蒸发器结构相应切断，控制蒸发面积与制冷量膨胀阀匹配，使用制冷系统输出合理减少加热器中和的输出量，达到恒定节能;另有独立的换气阀门，在排气(常温恢复)时动作引入环境空气。

进气口在环境温度曝露时吸进外面的空气。

排气口从机械室和试验区排出热气定时预定功能。

预先设定试验开始时间，试验箱自动开始起动并准备开始试验。

曝露时间缩短功能。

试验区的下风温度达到曝露温度后转换到下一个曝露的功能。

前处理/后处理功能。

在循环试验开始前或结束后，试样被曝露在高温环境中(热处理)维持一定时间。干燥运转功能。试验结件下运转一定的时间。