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ST4000-DLX厚度仪

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产品型号ST4000-DLX厚度仪

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厂商性质其他

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更新时间:2023-03-12 07:17:29浏览次数:58次

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产品简介

ST4000-DLX厚度仪·标准模式 ·工业规格 ·适合科研中心 测量迅速,操作简单非接触式,非破坏方式Print Function of Each View & Data Saving

详细介绍

ST4000-DLX厚度仪
·标准模式
·工业规格
·适合科研中心
测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
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尺寸 500 x 610 x 640 mm
重量 45Kg
类型 手动的
测量样本大小 ≤ 8", 12"
测量方法 无连接的
测量原理 反射计
特点

测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
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活动范围 200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12")
测量范围 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
光斑尺寸 40㎛/20㎛, 4㎛(option)
测量速度 1~2 sec./site
应用领域 All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
Intended for Wafer Measurement & OLED
选项
Programmable Auto Z Stage
参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
焦点 Coaxial Coarse and Fine Focus Controls
附带照明 12v 100W Halogen Lamp

关键词:标准

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