上海美盛自动化设备有限公司
ST4000-DLX厚度仪·标准模式 ·工业规格 ·适合科研中心 测量迅速,操作简单非接触式,非破坏方式Print Function of Each View & Data Saving
ST4000-DLX厚度仪 测量迅速,操作简单
·标准模式
·工业规格
·适合科研中心
测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
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尺寸 500 x 610 x 640 mm 重量 45Kg 类型 手动的 测量样本大小 ≤ 8", 12" 测量方法 无连接的 测量原理 反射计 特点
非接触式,非破坏方式
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活动范围 200mm x 200mm(8"), 300mm x 300mm(12") 测量范围 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type) 光斑尺寸 40㎛/20㎛, 4㎛(option) 测量速度 1~2 sec./site 应用领域 All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
Intended for Wafer Measurement & OLED 选项 焦点 Coaxial Coarse and Fine Focus Controls 附带照明 12v 100W Halogen Lamp
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