上海美盛自动化设备有限公司
ST2000-DLXn厚度仪·*优惠的价格 ·适合大学和科研中心 测量迅速,操作简单 非接触式,非破坏方式 优良的重复性和再现性 用户易操作界面 每个影像打印和数据保存功能 可测量多达3层 可背面反射
ST2000-DLXn厚度仪 测量迅速,操作简单 聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
·*优惠的价格
·适合大学和科研中心
尺寸 190 x 265 x 316 mm 重量 12Kg 类型 手动的 测量样本大小 ≤ 4" 测量方法 非接触式 测量原理 反射计 特征
非接触式,非破坏方式
优良的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射
活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) 测量范围 200Å~ 35㎛(Depends on Film Type) 光斑尺寸 20㎛ 典型值 测量速度 1~2 sec./site 应用领域
电解质:
半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 选择 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) 探头类型 三目探头 nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt 照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
仪表网 设计制作,未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码
请输入你感兴趣的产品
请简单描述您的需求
请选择省份