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XP26/XP56梅特勒超级系列微量天平●采用高精度高分辨率后置式传感器
XP26/XP56梅特勒超级系列微量天平
● 采用高精度高分辨率后置式传感器,满足用户高精度的称量要求
● 天平校验功能(BalanceCheck),自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平,确保称量结果始终准确
● 优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求
● *可拆卸,清洗的内部和外部玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁
● 丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、参数测量、差重称量
最小称置值(Minweigh) 功能 | ErgoClip Flask micro (选件)
|
MinWeigh Door micro (选件) | 一体化去静电 (选件) |
型号 | 称量值 | 可读性 | 重复性(sd) | 线性误差 | 典型稳定时间 | 秤盘尺寸(W*D) [mm] |
XP26 | 22 | 0.001 | 0.0025 | 0.006 | 3.5 | 40*40 |
XP26DR | 5.1/22 | 0.002/0.01 | 0.002/0.008 | 0.01 | 3.5/2.5 | 40*40 |
XP56 | 52 | 0.001 | 0.006 | 0.002 | 3.5 | 40*40 |
XP56DR | 11/52 | 0.002/0.01 | 0.002/0.014 | 0.03 | 3.5/2.5 | 40*40 |
DR=变量程;Sd=标准偏差
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