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XAD全自动光谱分析仪3

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更新时间：2022-10-13 13:43:25浏览次数：63次

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产品简介

XAD系列荧光光谱仪是一款全元素上照式光谱仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，*的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。性能优势： 1. 微小样品检测：最小测量面积0.0085mm² 2. 变焦装置算法：可改变测量距离

详细介绍

仪器简介：

XAD是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，*的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

产品优势：

微小样品检测：最小测量面积0.008mm²

变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm

自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可精准测量

*的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限

高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm²探测器

X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置

上照式设计：实现对超大样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量

可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量

多准直器自动切换

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