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JW-K型动态比表面及空隙率测定仪

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产品型号JW-K

品牌

厂商性质经销商

所在地北京市

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更新时间：2018-05-15 16:32:46浏览次数：280次

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产品简介

仪器功能
(测孔为主) 比表面积直接对比法比表面积测定；BET单点（P/P0=0.2）比表面积测定；BET多点比表面积；langmuir比表面积测定
总孔体积单点(吸附zui高点)计算的总孔体积；BJH总孔体积测定
平均孔径单点(吸附zui高点)计算的总孔体积；BJH平均孔径测定

详细介绍

JW-K技术参数

仪器功能（测孔为主）	比表面积	直接对比法比表面积测定；BET单点（P/P₀=0.2）比表面积测定；BET多点比表面积；langmuir比表面积测定
	总孔体积	单点（吸附zui高点）计算的总孔体积；BJH总孔体积测定
	平均孔径	单点（吸附zui高点）计算的总孔体积；BJH平均孔径测定
测量范围	比表面≥0.01m²/g,无规定上限；孔径2～100nm
测试精度	测试重复性误差≤2%
样品类型	粉末、颗粒、纤维及片状材料
样品数量	可同时进行2个样品的吸附或脱附测试
测试效率	可2个样品同时测试，平均每个样品每个P/P₀点测试时间约4～5分钟，每个P/P₀点2个样品测试时间约10分钟
方法	氮吸附法，连续流动色谱法
原理	氮吸附，多层吸附理论，毛细凝聚理论
气体	高纯氮气N₂（99.99%），高纯氦气He（99.99%）
氮分压	P/P₀范围0.01～0.98， P/P₀精度误差≤0.5%
控制系统	人工控制实验进程，采用进口的高精度流量传感器，根据具体实验需要手动控制流量，实现流量精确控制；而且采用高精度的热导检测系统，*的电桥平衡电路，信号灵敏度高
预处理	特制含真空系统的预处理机，预处理充分；每个样品可单定预处理温度和时间，温度可控范围50～400℃±1℃
软件	在Windows平台上提供自动控制测试和数据处理/报告系统，测试结束后无需进行数据后处理，软件功能强大，界面友好，操作方便