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现场/远程-飞行时间二次离子质谱

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更新时间：2023-06-19 10:20:26浏览次数：175次

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设备介绍飞行时间二次离子质谱技术（TimeofFlightSecondaryIonMassSpectrometry，TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量，具有分辨率的测量技术

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设备介绍

飞行时间二次离子质谱技术（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，TOF-SIMS）是一种非常灵敏的表面分析技术，通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量，具有分辨率的测量技术。