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红外探测器性能参数测试系统

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更新时间：2023-07-08 07:49:18浏览次数：121次

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北京北埃特光电子技术有限责任公司

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产品简介

产品名称：红外探测器性能参数测试系统产品简介：美国ISDC公司（InfraredSystemsDevelopmentCorporation）是一个设计和生产高质量红外测量系统和仪器的专业厂家

详细介绍

产品名称：红外探测器性能参数测试系统

产品简介：美国ISDC公司（Infrared Systems Development Corporation）是一个设计和生产高质量红外测量系统和仪器的专业厂家。从上世纪50年代开始，该公司的产品就在生物科学、航空航天研究等领域得到广泛的应用。该公司还可以根据用户的特殊要求和预算，提供各种测试问题的解决方案，设计开发相应的光电系统和相关软件。ISDC公司的产品在我国内高等院校，研究所等科研生产单位有许多用户

详细介绍：

可见光、短-中-长波红外探测器基本参数自动测量系统

可测量主要探测器包括： Si, InGaAs, Ge, InSb, PbS, PbSe, HgCdTe,Pyroelectric等

可测量主要参数包括： 探测灵敏度（D*），响应灵敏度（Rv，Ri），噪声谱，光脉冲响应，红外响应光谱，NEP，NEI，NEN，表面均匀性，量子效率等

高质量、精密的光学和电子设备与特定的软件相结合具有灵活多样性，允许用户完成不同的实验，产品验收和测试任务。

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