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GDDR7 Memory Test System

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产品型号M5512

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所在地深圳市

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更新时间：2024-05-16 09:35:56浏览次数：33次

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产品简介

产地	进口	加工定制	是

M5512 GDDR7 Memory Test System

ATE-on-Bench for GDDR7 Characterization and Test

详细介绍

GDDR7 Memory Test System

M5512 GDDR7 Memory Test System

BENEFITS

Fastest time to market: perform deep memory read/write operations and characterize electrical and timing specifications

Most capable PAM3 signaling: leveraging years of expertise in SerDes technology, the PAM3 pin-electronics exceed the requirements of the GDDR7 specifications

Automated: scripting capability ideal for debug tasks, verification, and full‐fledged production screening of devices and system boards

M5512 GDDR7内存测试系统

用于GDDR7表征和测试的台架ATE

利益

上市时间：执行深度内存读/写操作，并确定电气和时序规格

强大的PAM3信号：利用SerDes技术多年的专业知识，PAM3引脚电子器件超过了GDDR7规范的要求

自动化：脚本功能非常适合调试任务、验证以及设备和系统板的全面生产筛选