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三轮测试仪技术参数
HY(SL)三轮测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试。卡被放到机器中,测试轮将循环测试100次,芯片前方滚动50次,芯片后方滚动50次,循环频率为0.5Hz,向下的压力为8N。经过测试,检查芯片情况,芯片应该是完好无损且功能正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。
1 外形尺寸L 26 × W 23 × H28 cm
2 重量 10 Kgs
3 电源 AC220V 50-60HZ
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