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  • Micro Pioneer XRF2000系列镀层测厚仪

    X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

    型号: XRF2000 所在地:深圳市参考价: 面议更新时间:2018/5/15 14:47:08 对比
    XRF2000镀层测厚仪膜厚仪金属元素分析仪
  • 美国UPA贝尔塔射线涂镀层测厚仪MP-900

    应用在测量许多经典结构的镀层厚度,包括镍上镀金(Au/Ni),环氧树脂镀铜(Cu/epoxy),光致抗蚀剂photoresist,铜上镀银(Ag/Cu),科瓦铁...

    型号: MP-900 所在地:深圳市参考价: 面议更新时间:2018/5/15 14:47:08 对比
    台式贝塔射线测厚仪Beta射线测厚仪UPA MP-900β射线无损测厚仪

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