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X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。
应用在测量许多经典结构的镀层厚度,包括镍上镀金(Au/Ni),环氧树脂镀铜(Cu/epoxy),光致抗蚀剂photoresist,铜上镀银(Ag/Cu),科瓦铁...
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