1、打开X荧光镀层测厚仪，打开电脑。
2、准备各种标准片及样品。
3、开机后输入操作者应用密码，并预热60min。
4、点击“计数”，再点击“重复”，输入次数“30～50”，设置重复测次数为“30～50”，将标准校准样品“Ag”部分放入准直器镜头下，点击“聚集激光”进行聚焦，然后点击绿色测试按钮“GO”进行测试。
5、X荧光测厚仪波谱校准：点击“波谱校准”，将校准样品“Ag-Cu”部分放入准直器镜头下，点击“聚集激光”进行聚焦，然后点击绿色测试按钮“GO”进行测试；将标准样品“Ag”部分放入准直器镜头下，点击“聚集激光”进行聚焦，然后点击绿色测试按钮“GO”进行测试；波谱校准成功后，点击确定，校准过程完毕。
6、X荧光测厚仪样品测量：
①打开应用测试档案，点击样本测量，然后点击应用，再点击Config，选择要测量的应用档案，然后点击“打开”。②将待测试的样品放入准直器镜头下，点击“聚集激光”进行聚焦，然后点击绿色测试按钮“GO”进行测试。
7、X荧光测厚仪数据打印。点击打印，输入待打印的样品名称、型号、供应商等信息，点击“继续”进行结果打印。
8、测量完成后依次关闭软件和设备，拔掉电源。
