牛津仪器台式XRF镀层测厚仪 返回列表页

    牛津仪器台式XRF镀层测厚仪俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。

牛津仪器台式XRF镀层测厚仪优质供应商性能及符合性
至多同时测定5层，15种元素及共存元素的校正
同时实现多于25种元素的定量分析
检测方法通过ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等认证
开槽式大样品台
可编程的XY样品台
样品腔体积：500 × 450 × 170 mm
创新的防撞设计
可编程的样品台
预定位激光技术
多样化化的样品台行程范围及速度
自动测量
软件及校准
基于WindowsTM 7操作系统，直观的软件MaxxControl
选择经验校准以实现较大准确性或选择FP无标样模式以轻松实现校准
成分分析：可自由选择元素；厚度测量：可自定义镀层结构
对RoHS和贵金属进行工厂预装校准（可选）

牛津仪器台式XRF镀层测厚仪优质供应商亮点
采用微聚焦X射线光管，实现高精度、高可靠性、测量时间短、购置成本低
采用高分辨率的硅漂移探测器（SDD），提供能量级别的较好效率，极低的检出限（LOD）
多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额，提高测量效率
开槽式超大样品舱设计，十分适合电路板或其他超大平板样品
“USB接口"只需通过USB与计算机连接，无需额外的硬件或软件
德国制造，符合高工程标准，坚固耐用的设计可实现*可靠性
通过PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）认证，满足高辐射安全标准。

牛津仪器台式XRF镀层测厚仪优质供应商性能：

高分辨率的硅漂移器（SDD）
开槽式超大样品舱设计
8个准直器
USB接口与计算机连接
我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。