美国博曼（Bowman）X射线测厚仪BA-100G系列 返回列表页

美国博曼（Bowman）X射线测厚仪BA-100G系列

适用于小五金产品的镀层厚度快速无损测量、元素分析，是一款性价比高的紧凑型X射线荧光镀层测厚仪 
可测元素范围广泛，Ti22—U92 
成份分析zui多可达25种元素 
zui多可测4层镀层+基材层的镀层厚度 

美国博曼（Bowman）X射线测厚仪BA-100G系列采用预热时间短，长寿命的50W（50KV 1.0mA）微聚焦的W靶X射线管，开机5分钟内即可测量 
X射线由下往上 
高分辨半导体固态探测器（Si-Pin），提高稳定性和灵敏度，有效区分相邻元素的谱峰 
4种规格一次滤波器可自由切换 
可配置单准直器系统（仪器型号为BA100-G-S）或多准直器系统（仪器型号为BA100-G-M） 
准直器有园形和方形，有着多种规格：Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm、0.05×0.05mm等 
30X的高清CCD系统，便于产品放置 
焦距由工厂预设，垂直方向上可微调 
仅需一根USB线与电脑连接，增强信号的稳定性，有效减少故障率 
紧凑式设计，改善效率和精度 
模块化设计，方便维修、维护 
占用空间小、轻量化设计 

美国博曼（Bowman）X射线测厚仪BA-100G系列基于Net framework框架的Xralizer软件 
可采用基本参数法或经验系数法建立镀层测厚和元素分析档案程序 
设置直观的图标引导用户界面 
拥有快捷的面板操作按钮 
镭射辅助聚焦系统能有效避免人员测量误差 
设置功能强大的标准片库 
强大的报告编辑
拥有灵活的数据显示、数据和图像可以多种格式导出，每个测量点图片均可显示在测量报告中 

工作台内部尺寸（宽×深×高）：325×270×98mm 
仪器外形尺寸（宽×深×高）：400×480×350mm 
重量：25KG