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无损伤检测X射线荧光镀层测厚仪概述：
1、新型号设计
快速分析（几秒）1-4层镀层厚度
多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型
开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等
符合ISO3487和ASTM B568检测方法
2、高性能、高精度、*稳定性
快速精确的分析带来生产成本*化
精确测定元素厚度
优化的性能可满足广泛的元素测量
3、坚固耐用的设计
可靠近生产线或在实验室操作
生产人员易于使用
4、简单的校准调试
在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果
方法建立只需几分钟
无损伤检测X射线荧光镀层测厚仪
X-Strata920镀层测厚仪：又称X射线荧光镀层测厚仪，是能量色散X射线荧光（EDXRF）技术的大型台式测厚仪，是牛津仪器CMI900系列镀层测厚仪的升级产品，将取代CMI900系列产品。能进行非破坏、非接触，快速无损测量，在10秒内得出测量结果，可进行多层合金测量，具有高生产力优点，是质量管理、成本节约有力的检测工具。性
无损伤检测X射线荧光镀层测厚仪主要特点
可测元素范围：钛Ti22---铀U92；
可测定5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；
进行贵金属检测，如Au karat评价；
材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；
测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin；
强大的数据统计、处理功能，测量结果输出多样化；
拥有NIST认证的标准片；
提供服务及。
测量精度
| 膜厚范围 | *层（zui上层） | 第二层 | 第三层 |
| 小于0.5 µm （20 µin） | + 1 µin 或更好 | + 2 µin 或更好 | + 3 µin 或更好 |
| 大于0.5 µm | + 5% 或更好 | + 10% 或更好 | + 15% 或更好 |
| 含量 | *层 | 第二层 |
| 1--99 wt % |
| + 3 wt % 或更好
|
技术参数
| 项目名称 | 具体描述 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| X射线激发系统 | ·垂直下照式X射线光学系统 ·50W（50kV，1.0mA）空冷式微聚焦型钨W靶X射线管 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 准直器系统 | ·单准直器组件； ·多准直器自动控制组件：zui多可同时装配6种规格的准直器 ·园形、正方形、矩形和多种规格尺寸准直器任选（红色为常用的）：
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 样品室 | 开槽式样品室，测量大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的线路板 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 项目名称 | 具体描述 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| X射线激发系统 | ·垂直下照式X射线光学系统 ·50W（50kV，1.0mA）空冷式微聚焦型钨W靶X射线管 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 准直器系统 | ·单准直器组件； ·多准直器自动控制组件：zui多可同时装配6种规格的准直器 ·园形、正方形、矩形和多种规格尺寸准直器任选（红色为常用的）：
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| 测量斑点尺寸 | 在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 样品室 | 开槽式样品室，测量大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的线路板 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 样 品 台 |
固定样品台 ·Z轴自动控制，移动行程：43mm （1.7"），XY轴手动控制 ·zui大样品高度33mm ·仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×305mm（16×30.3×12"） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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加深样品台 ·Z轴自动控制，移动行程：43mm （1.7"），XY轴手动控制 ·zui大样品高度160mm ·样品仓有4个位置卡槽，相邻卡槽垂直间距25.4mm，样品台支架可放置在不同位置的卡槽上，可测不同高度的样品 ·样品仓内部尺寸（宽×深×高）：279×508×152mm（11×20×6”） ·仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×400mm（16×30.3×15.7"） ·自定义样品台：依据客户要求提供更高的样品台，满足高度＞160mm的样品测量，仓内设置多个位置卡槽，相邻卡槽垂直间距25.4mm
自动样品台 ·Z轴自动控制，移动行程：43mm（1.7"） ·XY轴自动控制，样品台移动行程：178×178mm（7x7”） ·zui大样品高度33mm ·样品台尺寸（宽×深）：610×560mm（24×22”） ·仪器外形尺寸（宽×深×高）：610×1037×375mm（24×40.8×14.8"） ·可提供对样品的自动和编程控制，多点测量 ·鼠标控制样品台移动，精确地定位样品测量点 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 镭射聚焦 | ·镭射用于自动精确定位X射线光管/探测器与样品到测试距离 ·单击鼠标，Z轴自动扫描 ·Z轴自动聚焦到焦距12.7mm，同时将样品图像定焦（显示在屏幕上） ·避免了人为操作误差 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 样品观察系统 | ·高分辨率彩色CCD观察系统，标准光学放大倍数为30倍 ·可选50倍和100倍观察系统 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 结果输出 | ·测量数据报告可直接打印或一键导出到PDF文件、Excel文件，为质量管理保留宝贵的原始资料 ·测量数据报告可包含测量数据、测量样品图像、各种统计分析图表、自定义的报告模板（系统预置模板、含用户信息的自制模板） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 计算机系统配置 | ·IBM计算机 ·佳能彩色喷墨打印机 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 分析应用软件 | ·操作系统：Windows XP中文平台 ·分析软件包：SmartLink FP软件包 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 系统安全性 | ·Z轴保护传感器 ·安全防射线光闸 ·样品室门开闭传感器 ·X射线锁 ·X射线警示灯 ·紧急停止按钮 ·前面板安全钮和后面板安全锁 ·多用户密码保护，只向日常操作员设定有限的*，操作界面简单，功能受限 ·主管人员可进行系统维护 ·系统自动生成操作员的使用记录 ·开启“自动锁定”功能可以防止未*人员使用；测量结束后，超过预设的时*，软件锁定并要求输入密码 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 测量自动化功能 | 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot” | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 测量位置预览功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 激光对焦和自动对焦功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 统计计算功能 | 平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 数据分组、X-bar/R图表、直方图 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 数据库存储功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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