天瑞金属膜厚仪 返回列表页

天瑞金属膜厚仪

膜厚仪也叫X射线测厚仪，它的原理是物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

天瑞金属膜厚仪采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号

天瑞金属膜厚仪优势：

全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动自检、复位； 
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样； 
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦； 
直接点击全景或局部景图像选取测试点； 
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示结果。