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Hl霍尔效应测试系统

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产品简介

Hl霍尔效应测试系统
NANOMETRICS HL5500PC
1.应用材料：Si、Ⅲ-Ⅴ、Ⅱ-Ⅵ和宽禁带半导体材料CIGS铜
铟镓锡薄膜
2.可测试半导体材料及外延层材料电阻系数，载流子浓度
及迁移率
3.无需对Sample加工，即可Van Der Pauw、Bar、Bridge三
种形式测试

详细介绍

Hl霍尔效应测试系统

NANOMETRICS HL5500PC

1.可测试半导体材料及外延层材料电阻系数，载流子浓度

及迁移率

2.应用材料：Si、Ⅲ-Ⅴ、Ⅱ-Ⅵ和宽禁带半导体材料CIGS铜

铟镓锡薄膜

3.无需对Sample加工，即可Van Der Pauw、Bar、Bridge三

种形式测试

4.使用*磁场：磁场强度0.32T±1%，十年内漂移率小于

0.1%，中心25mm内磁场均匀度小于±1%，磁场强度选择

0.1/0.2/0.4/0.5T

5.可测试高达100GΩ之样品

6.可选配90～500K、室温-600℃，LHe液氦温区4K或10K之变

温测试平台

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