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品名:STD-A介电常数测试仪,介电常数测定仪,介电常数检测仪,介质损耗测试仪 介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。 主要技术指标 1.频率范围及刻度误差 范围:50KHz~50MHz共分七个波段,允许误差:+2% 1.1:50~150KHz; 1.2:150~450KHz 1.3:450~1500KHz; 1.4:1.5~4.5MHz 1.5:4.5~12MHz; 1.6:12~25MHz 1.7:25~50MHz; 2.Q值测量范围及误差 范围:5~500 误差:1)当频率从5~25KHz 量程5~50 +5%,量程15~150 +5%,量程50~500 +7% 2)当频率从25~50MHz,所有量程均为+10% 3)△Q范围:-25 ~ 0 ~ +25。 3.电感测量范围及误差:范围:0.1μH~100mH,误差:+5%+0.01μH 4.试样尺寸 圆片形:厚度2+0.5mm,直径为Φ30~40mm(ε<12时); Φ25~35mm(ε=12~30时)Φ15~20mm(ε>30时)。 |
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