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半导体特征分析系统

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产品型号KEITHLEY4200-SCS型半导体特征分析系统|美国吉时利

品       牌

厂商性质经销商

所  在  地深圳市

联系方式:刘刚查看联系方式

更新时间:2015-06-19 12:12:13浏览次数:308次

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经营模式:经销商

商铺产品:200条

所在地区:广东深圳市

联系人:刘刚 (销售工程师)

产品简介

直观的、点击式Windows操作环境
·*的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA
·用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能
·集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡

详细介绍

美国吉时利KEITHLEY4200-SCS型半导体特征分析系统 金博宇*的详细资料:

深圳市金博宇科技有限公司是专业从事测试仪器仪表设备的代理经销售后服务集成商,并与国内外仪表生产厂商有着广泛的技术与销售合作.作为美国菲利尔FLIR、美国FLUKE、美国泰克、美国Keithley 、美国安捷伦Agilent、中国台湾皇晶ACUTE、英国PEM、普源精电、青岛青智、费思泰克,华谊仪表,中国台湾固纬,德国惠美, 法国CA,中国台湾品致,长盛仪器,美尔诺,等诸多国内外代理与经销:主要销售的测试仪器仪表有: 示波器、信号源、万用表、热像仪、电流电压探头、电子负载、电源、频谱、等测试仪器。

 

吉时利4200-SCS型半导体特征分析系统 主要特点及优点:  

·直观的、点击式Windows操作环境
·*的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA
·用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能
·集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
·内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
·*的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
·内置了Stress/Measure,循环和数据分析功能,通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试,包括5个JEDEC规范的样品测试
·支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备
·硬件由keithley交互式测试环境(KITE)来控制,用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充
·包括驱动软件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自动和手动探针台
·支持*的半导体模型参数提取,包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso

容易使用的吉时利4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚f*的分辨率。它提供了的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。

 

KEITHLEY4200-SCS 相关应用:
半导体器件
·片上参数测试
·晶圆级可靠性
·封装器件的特性分析
·使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析
·高K栅电荷俘获
·易受自加热效应影响的器件和材料的等温测试
·电荷泵方法分析MOSFET器件的界面态密度
·电阻式或电容式MEMS驱动特性分析
光电器件
·半导体激光二极管DC/CW特性分析
·收发模块DC/CW特性分析
·PIN和APD特性分析
科技开发
·碳纳米管特性分析
·材料研究
·电化学

 

 


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