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扫描电子显微镜(SEM)图像系统改造为微区分析领域的用户提供经济、实用的合理解决方案。扫描电子显微镜sem,电子扫描显微镜,扫描电子显微镜
扫描电子显微镜(SEM)图像系统改造硬件:
1.原装美国国家仪器公司图像采集板,支持PCI总线标准(2.2版),其总线数据度可 达32位,频率为33MHz,传输速率132Mb/S;支持*的数据管理结构,包括两路 DMA引擎,可编程的目标和源数据传输模式 ,以及PCI消息功能,即插即用。
2.SEM图像接口及电缆
扫描电子显微镜(SEM)图像系统改造功能:
1.主动式数字扫描系统,可实时调整扫描速度,亮度和对比度等。
2.可选择全屏扫描和区域扫描。
3.采集速度:4~120μS多种点逗留方式。
4.采集图像分辨率:64648bit、1281288bit、2562568bit、 5125128bit、 102410248bit
图像处理及分析软件:
1.图像显示方式:标准窗口匹配,图像缩放,处理区域选择,同屏显示原始图像及处 理后的结果。
2.图像标记:放大倍数、加速电压输入,彩色中西文字编辑,测量μ标尺显示。
3.图像增强:a.亮度、对比度调节。b.图像平滑。c.图像锐化。d.边缘提取。
4.域值分割:a.二值分割:建立二值图像。b.彩色分割:将图像不同的灰度区域设置 成不同的颜色,以伪彩色的方式显示出来。
5.形态学变换:a.二值图像处理及编辑:灰度形态学变换,包括:腐蚀、膨胀、开运 算、闭运算。b.图像细化。
6.灰度图像的伪彩色变换:将灰度图像设置成某种颜色显示和存储。
7.灰度值方图显示
8.粒度分析:对图像中的颗粒进行重心、面积、周长、圆形度、长轴、短轴计算和部 分参数直方图显示、存储、打印。
9.图像存储和输出:多种格式图像存储,图像格式转换,图像打印、拷贝。
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主营产品:维修或改造所有类型任何品牌的扫描电子显微镜(SEM)和Si(Li)探测器.代理销售英国Si(Li)探测器及数字脉冲处理器,国产化能谱仪,改造X射线能谱仪。
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