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上海精科物光SGW X-4显微熔点仪数显 *

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产品型号SGW X-4

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产品简介

上海精科物光SGW X-4显微熔点仪数显商品描述：
应用范围：测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。

详细介绍

上海精科物光SGW X-4显微熔点仪（数显）商品描述：

应用范围：测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。

上海精科物光SGW X-4显微熔点仪（数显）技术规格：

性能指标

熔点测量范围：室温至320℃

测量重复性：±1℃（在<200℃时）
±2℃（在200～300℃时）

光学放大倍数：目镜10X；物境4X

：邵

手机：

关键词：熔点仪显微镜

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