优特(上海)检测设备有限公司
X-RAY荧光光谱仪
UTX650 X荧光光谱仪
主要应用范围: 材料分析和镀层厚度(膜厚)测量 镀液分析、黄金等贵金属鉴定 | |
X射线管: 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 75W(4-50KV 0 -1.5mA)可选 | |
探测器: 正比计数器 | 滤光器: 一次滤光 |
准直器: Ф3mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm,多种准直器可选 | |
样品观察: CCD高精度彩色摄像头 | 对焦系统: 激光对焦 |
测量方向: 从上向下 | 可测元素: K到U |
样品台: 多种样品台可供选择(XYZ可移动样品台,程控样品台,固定样品台) | |
测试时间: 镀层厚度:10-100s | 元素含量:60-300s |
元素含量分析指标:分析范围:100PPM-99.99% | 准确度:5% |
精确度:0.1% | 检出限:100PPM |
镀层厚度的检测指标:准确度:*层5%,第二层10% | 精确度:0.1% |
检出限:0.01μm | 测试软件: 基本参数法 |
定量功能: 出厂前完成标定曲线,客户直接测试,无需标样 | |
定性功能: 自动标示存在元素 | |
报告结果: 自动生成 | 数据处理: MS-EXCEL |
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