优特(上海)检测设备有限公司
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X-RAY荧光光谱仪
UTX900 X荧光光谱仪
| 主要应用范围： 轻元素分析，元素分析可从Na至UROHS有害元素检测 材料分析和镀层厚度（膜厚）测量镀液分析、黄金等贵金属鉴定 | |
| X射线管： 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 75W(4-50KV 0 -1.5mA)可选 | |
| 探测器： 硅锂半导体探测器 | 滤光器： 一次滤光 |
| 准直器： Ф8mm、Ф3mm、Ф2mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm，多种准直器可选 | |
| 样品观察： CCD高精度彩色摄像头 | 对焦系统： 利用旋钮视觉对焦 |
| 测量方向： 从下向上 | 样品台： 固定样品台，超大式样室 |
| 可测元素： Na到U | 测试时间： 元素含量：60-300s |
| 元素含量分析指标：分析范围：1PPM-99.99% | 准确度：5% |
| 精确度：0.1% | 检出限：1PPM |
| 镀层厚度的检测指标：准确度：*层5%，第二层10% | 精确度：0.1% |
| 检出限：0.01μm | 测试软件： 基本参数法 |
| 定性功能： 自动标示存在元素 | |
| 定量功能： 出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样 | |
| 报告结果： 自动生成 | 数据处理： MS-EXCE |
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