科学家门捷列夫说过:“科学是从测量开始的”。在现代科学技术的推动下,人类对物质世界进行测量,监控物质世界使之达到目标,逐渐形成了认识世界、改造世界的重要技术,成为现代科学的重要学科之一。测试计量技术学
随着半导体材料、电子材料、集成电路行业的飞速发展,由于带隙参数能反应出材料价带信息,所以人们对带隙测量也越来越关注。Avantage软件具有强大的XPS数据处理能力,其中带隙测量便是其功能之一,能快速
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,仪表网对此不承担任何保证责任。
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。