仪器介绍
实验室数字化HPGe伽玛谱仪
小巧的外观，强大的功能
与SMART-1、DIM技术良好匹配
低频噪声抑制器功能，显著改善分辨率
集合了ORTEC在数字化谱仪上的多项技术：自动*化、数字化自动极零、零死时间校正、内置虚拟示波器、弹道亏损校正和数字化门控基线恢复等
USB2.0接口，高速传播数据
有连接自动换样器的接口
技术参数
zui大数据通过率 :
大于100,000 cps（低频抑制器LFR关闭）；大于34,000 cps（低频抑制器LFR开启，根据成形时间常数而变）。
增益:
粗调：由计算机选定为1,2,4,8,16,或32；
细调：由计算机设定为0.45至1.00。
成形时间常数：
上升时间：0.8至23 s可调，每步0.2s，由计算机选择；平顶：范围从0.3至2.4s，每步0.1s，由计算机选择。在自动*化功能下自动调整。
存储器分段（系统变换增益）：
由计算机选择为16,384，8192，4096，2048，1024或512道。
非线性：
积分非线性：≤ 0.025%（谱的99.5%，用5.9KeV到1836KeV范围内的混合源测定）；
微分非线性：≤ 1%（用BNC公司的脉冲产生器及斜波产生器测定）
数字化稳谱器：
由计算机控制并稳定增益和零点。
温度系数：
增益:<35ppm/C；零点:<3 ppm/C。
过载恢复：
在zui大增益时，能在2.5倍的非过载脉冲宽度内从1000倍过载恢复至额定输出的2%以内（用Insight虚拟示波器测定）
脉冲抗堆积：
自动设定域值，脉冲对分辨率为500ns。
自动数字化极零调节：
由计算机控制，可以手动或自动设定，远程模拟示波器方式诊断。
LLD/ULD：
数字下域电平甄别器，以道为单位设置，LLD以下所有各道的计数被卡掉；数字上域电平甄别器， ULD以上所有各道的计数被卡掉。
数字式门控基线恢复器：
可由计算机调节恢复频率（高、低或自动）。
数据存储器：
16,384道不丢失数据存储器，每道容量231-1（20亿）计数。
计数率显示：
在谱仪或电脑屏幕上显示计数率。
死时间校正：
按Gedcke-Hale 法活时校正，精度（随峰面积而变化）： <+ 3% （ 0 – 50,000 cps）。
显示/接口：
240160像素（pixel）背光液晶显示（LCD）提供谱的活显示和状态信息。USB2.0接口。
尺寸与重量：
尺寸：24.9×20.0×8.1 cm。
重量：＜1.0Kg。
工作条件： 5C到50C（包括LCD显示）。
主要特点
低频抑制器（LFR）：
LFR是一项新型的数字化滤波技术，主要用来消除来自于机械制冷、电源电压波动或接地不良等外部因素导致的低频噪声信号，从而使系统的分辨率得到较显著改善。
用户可根据情况选择开启或关闭此项功能。
SMART-1/DIM技术：
探测器与谱仪之间采用集束电缆连接，屏幕随时显示探测器晶体温度、高压状况、实时间、活时
间、计数率、增益和零点稳定性和探测器序列号等信息。
零死时间校正（ZDT）：
在谱获取中，对于中子活化分析中计数率快速衰减、或是在线测量时突然出现的尖峰信号的情况，ZDT方法采用ORTEC精密的Gedcke-Hale时钟进行零死时间校正，以实现无损失计数（Loss-free Counting）。由软件可以快速选定这一功能。经校正的谱图和未经校正的谱图可以同时保存，以作进一步分析。ZDT在显示校正后的谱图的同时给出与之对应的不确定度。
弹道亏损校正/虚拟示波器：
在系统采用相对效率较高的HPGe探测器时，
弹道亏损效应（Ballistic Deficit）常导致分辨率的变差甚至恶化（尤其在高能端），ORTEC的内置虚拟示波器可以用来设置脉冲成形的平顶（flap top）和斜度（tilt），比如对207%的HPGe探测器，在平顶时间设为0.8μs时，分辨率能恢复到接近正常水平。
与自动换样器匹配：
DSPEC-jr-2.0具有相应接口，与ORTEC自动换样器ASC2匹配。可用于遥控操作。
简单快捷的设置：
由GammaVision与Mastro-32软件都可以实现参数的快速设置。
