超声波测厚仪MG2-DL 返回列表页

超声波测厚仪MG2-DL使用双晶探头,从被测物体的一面就可以测量被腐蚀、有凹痕、被氧化或呈粒状等其它较难测量物体的厚度。
超声波测厚仪MG2-DL-技术参数：

◆增益调整 有
◆自动增益优化 有
◆回波回波 有
◆差分测量 有
◆穿透涂层 有
◆高低报警 有
◆数据存储 有（5000个厚度值）
◆USB接口 有
◆电池 AA电池×3工作125小时
◆外型尺寸 84×152.4×39.6mm
◆重量 0.34kg
◆技术规格 MG2-DL
◆显示屏 液晶显示（带背光）
◆测量范围 0.5---635mm
◆声速范围 0.762-13,999mm/μsec
◆显示精度 0.1/0.01mm
◆冻结模式 有
◆显示保留/空白 有
◆zui大/zui小值 有
◆探头自动识别 有
◆零位补偿 有
◆测量速度 2点/秒;20点/秒
◆工作温度 -10-50℃

是测量有内部腐蚀的部件zui为理想的便携式测厚仪，包括MG2-DL/MG2-DL-XT/MG2-DL-DL超声波测厚仪。

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