X荧光光谱仪 返回列表页

GX-300 ROHS检测仪器|X荧光光谱仪特征：

1.        采用能量色散X荧光分析技术（EDXRF），实现多种元素同时测量。

2.        可根据用户的应用要求配置为从Na到U的任意多种元素。

3.        采用多种措施优化光路设计和配置，保证了特征X射线的探测效率。

4.        采用50W侧窗X射线管，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率。

5.        基于Windows2000/XP的程序功能丰富，各种图表和趋势图为决策提供zui直观的支持。数据可直接输出到 Excel，便于进行统计分析。

6.        备有基于神经网络模型的经验系数法建模，非常稳定可靠。 

ROHS检测仪规格参数：

分析原理： 能量色散X射线荧光分析法

分析元素： Na ～U任意元素

检出下限： (Cd/Pd) Cd/Pb/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm

样品形状： 任意大小，任意不规则形状

样品类型： 塑胶/金属/薄膜/粉末/液体

X射线管： 靶材：Mo

管电压： 5～50 kV

管电流： zui大1～1000 μA

照射直径： 2、5、8mm自动转换

探 测 器： Si(PIN)半导体高分辨率探测器

滤 光 片： 八种新型滤光片自动选择

样品定位： 微动载物平台（选配）

样品观察： 30倍彩色CCD摄像机

微区分析： X光聚焦微区分析系统（选配）

软    件： 定量分析： α系数法

WINDOWS XP

数据处理： 主机： PC机

 内存： 256 MB以上

硬盘： 40 GB以上

OS： Windows XP

工作环境： 温度 10～35 ℃ 湿度 30～70%R H

電    源： AC 220 V±10 %、50/60 Hz

功    率： 1.1kW

重    量： 40Kg

外形尺寸： 610(W)×750(D)×500(H)mm