全新参数分析仪降低特性分析复杂度，加快获得信息的速度

　　的测量解决方案提供商——泰克科技公司日前推出可以量身定制的全面集成的Keithley 4200A-SCS参数分析仪，通过降低新用户或偶尔使用的用户面临的特性分析复杂度，简化测试设置，提供清楚的结果，加快了用户获得半导体器件、材料和工艺洞察力的速度。
　　　　Keithley 4200-SCS参数分析仪已经取得了巨大的成功，在此基础上，新推出的4200A-SCS仪器采用现代工业设计，拥有全新图形用户界面及多种自学工具，如仪器内嵌的专家指导视频。其结果，是测试设置时间缩短达50%，操作明显更容易、更直观。易用性对半导体器件研究、器件故障分析或可靠性测试等应用尤其重要，在这些应用中，多个用户之间要共享仪器资源。
　　
　　“参数分析对商用前分析新型半导体器件、材料或测试器件的可靠性至关重要。但是，科研人员可能只需偶尔执行这些测试，因此很难成为使用参数测试仪器的专家。”泰克科技公司吉时利产品线总Mike Flaherty说，“正因如此，我们不遗余力地使4200A-SCS设置和学习操作方面特别简便，即使对以前没有参数分析仪经验的用户也不例外。”
　　
　　新型开关模块
　　
　　泰克深知，各种测量给半导体研究增加了进一步的复杂度，因此还推出Keithley 4200A-CVIV四通道IV/CV开关模块。这个模块用于4200A-SCS主机，能够在SMU(I-V)测量与电容-电压（C-V）测量之间随意切换，用户可以把C-V测量移动到任何器件端子，而不需抬起探针或移动电缆。
　　
　　由于新型宽屏高清显示器，4200A-SCS为交互式测试和试验提供了更多的屏幕空间。这种显示器与全新用户界面相结合，既为偶尔使用的用户提供了直观的操作能力，又为专家用户提供了所需的功能。全新用户界面包括专家视图，融汇了世界各地吉时利应用工程师的知识和智慧。这些视频缩短了用户的学习周期，在发生意想不到的结果时帮助用户调试问题，对其看到的结果树立信心。
　　
　　与上一代仪器一样，4200A-SCS是一种全面集成的模块化参数分析仪，可以分析材料、半导体器件和工艺的电气特点。4200A-SCS由进行I-V特性分析的多个源测量单元、用于AC阻抗测量的电容-电压模块以及执行脉冲式I-V、波形捕获和瞬态I-V测量的超快速脉冲测量单元组成，为科研人员或工程师进行材料研究、半导体器件设计、开发或生产提供了所需的关键参数。